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Microscopio Elettronico a scansione a Pressione Variabile (VP-SEM), Microanalisi a R.X. (EDS), Anali
Leo Electron microscopy ltd. Cambridge (U.K.),Oxford Instruments Analytical - (U.K.).: Leo 1450 VP, INCA Energy 300
ICP Spettrometro di Emissione a Plasma di Argon - GE
THERMOELEMENTAL: IRIS INTREPID OES
Laboratorio per la caratterizzazione delle polveri - GE
Setaram, Micromeritics: Labsys TG-DTA,Setsys Dilatometer 24 TMA, He-Picnometry,ASAP 2010
Microscopio a Forza Atomica (AFM) - GE
Digital Instruments (USA): Nanoscope III Multimode